N₂およびO₂分子について、ナノ秒Nd:YAGレーザー光のレーザー電場が存在する状況で、高強度フェムト秒Ti:sapphireレーザー光を照射した。飛行時間型イオン分析装置を用いたいわゆるTOFスペクトルを観測すると、特定のフラグメントイオンについて両者の間に著しい相違が観測された。イオン画像化装置を用いて分子の配向の効果を評価しつつ、両者の相違の原因を解明すべく実験データの解析を進めている。

Multiphoton ionization of N₂ and O₂ was studied experimentally by irradiating femtosecond laser pulses at λ~800 nm together with nanosecond laser pulses at λ~1 μm. Distinct differences were observed in the time-of-flight spectra of corresponding fragment ions. Degree of alignment by a nanosecond laser field was also evaluated using ion imaging technique.