電子線照射フラーレン薄膜の構造と電子物性
理研・阪大院工
○尾上順，原寿樹，中山知信，青野正和，武内一夫
Abstract
電子線を照射したC60薄膜の構造および電子物性（電界放射、電子伝導）を調べた。In-situ"FT-IRおよびレーザー脱離FT-MSの測定結果から、C60分子同士が融合反応をおこしピーナッツ型構造をしたポリマー相が生成していることがわかった。また、In-situで電界電子放射特性を調べた結果、オンセット電圧が半分に減少した。さらに、四探針STMを用いて伝導特性を調べた結果、照射前に半導体であったC60薄膜が電子線照射後に金属的な性質に変化したことも見い出した。以上、構造と電子物性の相関関係について報告する予定。
Thestructurandelectronicpropertiesofanelectron-beam(EB)irradiatedC60filmarepresented Usingin-situFT-IRandlaser-desorptionFT-MS,wefoundthatC60moleculeswerecoalescedtoformapeanut-shapedpolymer Weexaminedthefield-emissioncharacteristicsoftheEBirradiatedC60filmandfoundthatEBiiradiationenhancesthefieldemissionofthefilm Furthermore,wemeasuredtheelectronictransportpropertyofthefilmusingmulti-tipSTM ThetransitionintheelectronicpropertyoftheC60filmfromsemiconductortometalwasfoundbeforeandafterEBirradiation WewillpresentyouthecorrelationbetweenthestructureandelectronicpropertiesoftheC60film