我々は軟Ｘ領域の放射光を利用した内殻吸収・光電子・軟Ｘ線発光分光法によって固体表面吸着系の電子状態を詳細に調べるための超高真空装置をSPring-8に導入した。(1)全反射条件下で表面感度の高い測定が可能であること、(2)偏光特性を分離した検出が可能であること、(3)独自に設計した発光分光器を備えていることなどが特徴である。初期データを示して、本装置によって可能となる表面研究について報告する。

WehaveconstructedanewUHVapparatusforsoftx-rayspectroscopicstudiesofsurfacesystems Absorption,photoelectronandsoftX-rayemissionspectracanbemeasuredundertotalreflectionconditionwithhighsurfacesensitivity Wewillpresentcharacteristicsoftheapparatusandpreliminarydata