多温度X線電子密度測定による近藤結晶CeB6中の熱励起状態および4f電子移動の観測とその機構Measurement of thermally excited state and 4f-electron flow and its mechanism in the Kondo crystal CeB6 by multi-temperature X-ray diffraction.
名工大工・阪大理
○田中清明，大貫惇睦
Abstract
Ｘ線回折法により、100K,165K,230K,298Kで近藤結晶CeB6の電子密度を測定し、スピンー軌道相互作用を考慮してＸ線原子軌道解析を行った。温度降下に伴い、Ce-4f電子がB6八面体を連結するB-B結合に、八面体内のB-2p電子とともに移動すること、これに伴う結晶内静電ポテンシャルの変化による非調和熱振動の誘起が明らかになった。これはエントロピー増加を示し、電子移動によるCe-4f軌道の安定化に関わらず、電子移動が止まらない理由である。また、298Kでは熱励起による励起状態（ＧＡＭＭＡ）＄７＄に電子が存在することが明らかになった。占有電子数比からエネルギー差は約470Kとなった。
Ｍｕｌｔｉ−ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ Ｘ−ｒａy ｅｌｅｃｔｒｏｎ density measuremenｔ ｏf Kondo crystal CeB6 revealeｄ the more Ｃｅ−4ｆ ｅｌｅｃｔｒｏｎs flow to Ｂ−Ｂ ｂｏｎｄｓ ｂｅｔｗｅｅｎ B6 octahedra at the lower temperature. It causes anharmonic vibration of Ce or an increase in entropy. Since the electron flow itself increases entropy,the electron flow can't be stopped. Electron population at the excited state Γ7 corresponding to the energy gap of 470K was also found.