非接触原子間力顕微鏡（NC-AFM）は力学的相互作用に基づいた単一分子分析のツールとして発展しつつある。演者らは、二酸化チタン（110）表面に孤立して吸着させた針状分子（HC三CCOO）をNC-AFMで観察した。連続体探針-探針先端原子クラスター-吸着分子-連続体基板間にファンデアワールス引力を仮定して実測の顕微鏡画像を再現するようシミュレーションを実行した。探針先端に突出した単原子が存在することが、ファンデアワールス力による単一分子分析に必要な条件であると結論した。

Noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) is a rapidly developing method for single-molecule characterization regardless of the conductivity of samples. The NC-AFM topography of a needle-like molecule (propiolate: HCCCOO) isolated on the TiO2(110) surface was experimentally determined and theoretically reproduced to evaluate the atom-scale structure of the probing tip apex.