93014852.219

表面X線散乱法による金単結晶電極上へのパラジウム電析過程のその場構造解析


北大院理・原研関西研

○近藤敏啓,高橋正光,田村和久,猶原秀夫,水木純一郎,魚崎浩平



Abstract


表面X線散乱法によって金単結晶(111)および(100)上へのパラジウム電析膜構造をその場追跡した結果、(111)上では1層目のみ下地金基板と同じ原子間隔をもつパラジウム層が、(100)上では14層目程度まで下地と同じ原子間隔をもつパラジウム層が形成されることがわかった。

The structures of the electrochemically deposited Pd layers on Au(111) and Au(100) were investigated by in situ surface X-ray scattering (SXS). While only the first layer was pseudomorphic on Au(111), pseudomorphic structure was maintained up to 14 layers on Au(100)