要旨

分子の解離で生成した励起水素原子4p副準位の存在比は、これまで励起水素原子からの発光寿命を測定し、減衰曲線を解析することで決定されてきた。しかし、電子衝撃実験では、低エネルギーで数ナノ秒のパルス電子線を得ることは困難である。そこで今回、発光−発光コインシデンス法を用いて、連続電子線で励起水素原子4p副準位の存在比を決定する方法を考案し、三フッ化メタンやメタンに応用した。

ABSTRACT

The population of the 4p sublevel of the excited hydrogen atom produced through dissociation of a molecule was determined by analyzing its observed radiative decay curve in the earlier literature. In electron-impact experiments,however,it is difficult to prepare a pulsed electron beam with a pulse duration of several nanoseconds at low energy. We have newly developed a method for obtaining the population of the 4p sublevel,using a photon-photon coincidence technique with a continuous electron beam,and applied this technique to trifluoromethane and methane.