| 表題物質では、セシウムイオン含有量の差がフィリング量の違いとして反映されている。Ｘ線散漫散乱測定を行った結果、電荷密度波に基づく反射が観測され、フィリング量の違いにより３次元的なオーダーの程度に変化が現れた。結晶１つ１つの電気伝導度測定と散漫散乱による電荷密度波状態評価により、フィリング量と電気物性の相関を明らかにする。 |
| The filling level of Cs+x(18-Crown-6)[Ni(dmit)2]2 depends on the content of Cs+ in the crystal. X-ray diffuse scattering originating from charge density wave appeared as streaks or spots according to the degree of three-dimensional order. The correlation of band-filling and electrical properties will be discussed based on electrical conductivity and diffuse scattering of each crystal. |